无论您是在十余个测试点上实现高精度、低速测量,还是要体现集成电路高通道数、高频率的特性,NI均能通过灵活且基于PXI或SCXI的模块化开关方案,帮助您实现设备重复利用率、测试处理能力和系统可升级性的最大化。